お知らせ・プレスリリース

お知らせ

  製品カテゴリ 発行日
【お知らせ】ポリエチレン試料容器の一部品目の販売休止と特別販売のお知らせ 2026/05/25
【お知らせ】日本物理学会Jr.セッションへの協賛(2026) 2026/04/28
【お知らせ】慶應義塾大学理工学部中央試験所に「慶應義塾大学―リガク産学連携ラボ」を開設 X線回折 2026/04/22
【お知らせ】リガクジャーナル 2026年春号(通巻125号)を発行しました。 2026/04/21
【お知らせ】価格改定のお知らせ 2026/02/18
【お知らせ】印鑑押印省略のお知らせ 2026/02/18
【お知らせ】電離放射線障害防止規則の改正における 弊社ボックス型X線装置に関する対応について 2025/12/26
【お知らせ】部品価格改定のお知らせ 2025/12/10
【お知らせ】薄膜デバイス事業部取り扱い製品 アフターサポート料金改定​のお知らせ 2025/10/24
【お知らせ】リガクジャーナル 2025年秋号(通巻124号)を発行しました。 2025/10/21

プレスリリース

  製品カテゴリ 発行日
【プレスリリース】インドメタシンの新たな結晶多形を発見 ~リガク参画の共同研究成果が学術誌Crystal Growth & Design に掲載~ 2026/06/09
【プレスリリース】品質管理向け卓上型XRF分析装置「NEX QC IIシリーズ」販売開始 ~検出能力約2.3倍、測定時間5分の1に短縮、現場業務を効率化~ 2026/05/28
【プレスリリース】リガク、世界最高水準の研究基盤を活用し、次世代半導体計測技術の開発を加速 2026/05/12
【プレスリリース】リガク、Onto Innovationによる株式27%取得を伴う戦略的提携を開始~X線・光学・AIの融合により半導体分野で事業機会を拡大~ 2026/04/21
【プレスリリース】電子密度トポグラフィー(EDT)の活用拡大に向けた取り組みを開始 ~生体分子の「形状」と「動き」を捉える新解析技術、ライフサイエンス研究を次のステージへ~ 2026/04/09
【プレスリリース】ごくわずかな量の高山植物の花サンプルから新たに開発した手法により多様なフェノール化合物の構造決定に成功 2026/03/31
【プレスリリース】リガク、半導体向け計測装置「ONYX 3200」を販売開始~チップの配線からパッケージング工程まで、金属検査を1台で完結~リガク、半導体向け計測装置「ONYX 3200」を販売開始 半導体計測 2025/12/17
【プレスリリース】リガク、次世代半導体向け計測装置「XTRAIA MF-3400」販売開始~急拡大するAI・データセンター需要に応える高精度ウェーハ計測~ 半導体計測 2025/12/04
【プレスリリース】リガク、台湾に新拠点「Rigaku Technology Center Taiwan」を開設~技術支援・共同開発を強化し、大中華圏での事業基盤を拡大~ 2025/10/20
【プレスリリース】リガク、JASIS 2025で新製品と最新分析ソリューションを公開~研究開発から量産まで、“一歩先”を支えるリガクの最新技術を展示~ 2025/08/28