ZSX Primus IVđť’ľ
Sequentielles wellenlängendispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer mit Röhre unterhalb der Probe
Kompromisslose Röntgenanalyse von Flüssigkeiten, Legierungen und beschichteten Metallen
Das Hochleistungsmodell mit Röntgenröhre unterhalb der Probe ermöglicht die kompromisslose Analyse von Proben wie Flüssigkeiten, Legierungen und beschichteten Metallen. Das WDRFA-Spektrometer ZSX Primus IV𝒾 bietet überragende Leistung und Flexibilität bei der Analyse der komplexesten Proben. Es verfügt über ein 30 Mikrometer großes Röhrenfenster, das dünnste Standard-Röhrenfenster in der Branche, für außergewöhnliche Nachweisgrenzen für leichte Elemente (Low-Z).
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ZSX Primus IVđť’ľ Ăśbersicht
Vakuum(trenn)system fĂĽr die Analyse von FlĂĽssigkeiten
Da die Spektrometerkammer immer unter Vakuum steht, ist der Wechsel von der Vakuumatmosphäre zur Heliumatmosphäre in weniger als zwei Minuten abgeschlossen. Darüber hinaus wird der Verbrauch von Heliumgas im Vergleich zu Modellen, bei denen die Spektrometerkammer ebenfalls gespült werden muss, erheblich reduziert.
Verbesserter Durchsatz
Die verbesserte Mechanik minimiert die Analyse-Totzeit. So konnte beispielsweise die Zeit fĂĽr eine sequentielle quantitative Messung mit 16 Elementen von 348 Sekunden auf 287 Sekunden verkĂĽrzt werden, was einer Effizienzsteigerung von 18 % entspricht.
D-MCA Hochgeschwindigkeitsanalyse
Das Digital Multi-Channel Analyzer (D-MCA)-System ermöglicht eine digitale Hochgeschwindigkeitsverarbeitung für hohe Zählraten und damit eine verbesserte analytische Präzision und höhere Durchsatzgeschwindigkeiten.
Optisches System, das nicht leicht durch Höhenschwankungen der Probenoberfläche beeinträchtigt wird
Eine unebene Probenoberfläche führt zu Schwankungen im Abstand zwischen der Probe und der Röntgenröhre. Diese Unterschiede können zu Veränderungen in der Röntgenintensität führen. Die optischen Systeme von Rigaku ermöglichen die Unterdrückung der durch Abstandsschwankungen verursachten Änderungen der Röntgenintensität. Dies ermöglicht eine genaue Analyse, indem die Auswirkungen von Formunterschieden durch Schmelzformen, die bei der Glasperlenformulierung verwendet werden, und die Auswirkungen von unebenen Probenoberflächen beim Pressen von Pulverproben minimiert werden.
Punkt/Mapping-Analyse
Ausgestattet mit einer hochauflösenden Kamera, die es dem Benutzer ermöglicht, kleine Merkmale zur richtigen Identifizierung und Analyse heranzuzoomen. Ermöglicht eine genaue Analyse durch Beseitigung von Empfindlichkeitsunterschieden, die durch die Platzierung der Messung verursacht werden. Überlegenes Design nutzt den Hotspot der Röhre zur Maximierung der Intensität/Empfindlichkeit.
Verfeinerte SQX-Analyse
Die SQX-Analyse ist eine standardfreie FP-Analysesoftware zur Berechnung der genauen Element-Zusammensetzung. Jetzt noch einfacher zu bedienen als je zuvor.
Automatischer Reinigungsmechanismus fĂĽr den Mitteldraht
Der Mitteldraht des F-PC-Detektors wird allmählich durch das Quenchgas des Proportionalzählers verunreinigt, wodurch sich die Auflösung verringert. Der Reinigungsmechanismus für den Mitteldraht ermöglicht die Wiederherstellung der Leistung, indem er die Verunreinigung des Mitteldrahts durch elektrische Heizung beseitigt, ohne dass die Stromquelle abgeschaltet oder das Gehäuse geöffnet werden muss.
Stickstoff- oder Helium-SpĂĽlmechanismus
Anstelle von Helium kann nun Stickstoffgas als atmosphärisches Gas verwendet werden. Bei Verwendung von Stickstoffgas liegt der Analysebereich des SQX 15P bis 96Cm. Bei Messungen in Stickstoffatmosphäre ist die Standardoption "SQX scattering FP method" nicht anwendbar.
ZSX Primus IVđť’ľ Eigenschaften
ZSX Primus IVđť’ľ Videos
ZSX Primus IVđť’ľ Spezifikationen
| Technik | Wellenlängendispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer (WDRFA) | |
|---|---|---|
| Nutzen | Element-Analyse von Feststoffen, FlĂĽssigkeiten, Pulvern, Legierungen und DĂĽnnschichten | |
| Technologie | Sequenzielle WDRFA mit Röntgenröhre unterhalb der Probe | |
| Attribute | Endfenster Typ Rh-Target 4 oder 3 kW, 54-Positionen-Autosampler, Analyse von Be bis Cm, Vakuum | |
| Optionen | He-flush Zusätzliche Kristalle zur Analyse r-θ-Stufe/Mapping |
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| Computer | Externer PC, MS Windows OS, ZSX-Software | |
| Abmessungen | 840 (B) x 1440 (H) x 980 (T) mm | |
| Masse | Ca. 600 kg (Kernelement) | |
| Energiebedarf | 3-phasig 200/208 V 40 A 50/60 Hz | |
ZSX Primus IVđť’ľ Optionen
Folgendes Zubehör ist für dieses Produkt verfügbar:
Halterungsfreie Lösung
Diese Option kann zum RFA-Spektrometer ZSX Primus IVi hinzugefügt werden, um Proben automatisch aus dem ASC-Magazin (Auto Sample Changer) zu transportieren und so eine kontinuierliche Messung und Automatisierung zu ermöglichen.
ZSX Primus IVđť’ľ Application Notes
Die folgenden Application Notes sind fĂĽr dieses Produkt relevant
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XRF1131 - Standardless FP Analysis of Lithium-ion Battery Cathode Material LiFePOâ‚„ by ZSX Primus IV
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BATT0004 - Chemical Composition Analysis of NMC Cathode
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BATT0001 - Battery Material Development
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WDXRF1099 - Trace Element Analysis in Geological Samples by the Pressed Powder Method, using GEO-TRACE-PAK
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WDXRF1085 - Trace Element Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
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WDXRF1106 - Sulfur Analysis in Petroleum Products by WDXRF according to ASTM D2622-16
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WDXRF1108 - Sulfur Analysis in Crude Oil and High-sulfur Fuels by WDXRF according to ASTM D2622-16
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WDXRF1102 - Standardless FP Analysis of Plant, Animal and Food Samples Applying Correction by Scattering Line
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WDXRF1084 - Mapping and Small Spot Analysis with a General-Purpose XRF Spectrometer
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WDXRF1105 - Lubricating Oil Analysis by WDXRF According to ASTM D6443-14
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WDXRF1117 - Lead Analysis in Gasoline — ASTM D5059-21 — using WDXRF ZSX Primus IV𝒾
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WDXRF1101 - Fused Bead Analysis for Refractories using Application Package Refractory Series
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WDXRF1100 - Fused Bead Analysis for Wide Concentration Ranges of Various Oxide Materials using OXIDE-FB-PAK
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WDXRF1092 - Fixed Angle Measurement using the Semi-Quantitative Analysis Function SQX of ZSX Guidance Software
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WDXRF1086 - Boron and Fluorine Quantitative Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
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WDXRF1091 - Beryllium Analysis in Beryllium Copper Alloy using ZSX Primus IV with RX85
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WDXRF1109 - Automatic Quant Application Setup Applied to Calibrating Coal Fly Ash Fused Beads
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WDXRF1104 - Analysis of S, Fe, Ni and V in Residual Oil According to IP610/13
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WDXRF1107 - Analysis of Low-concentration Sulfur in Petroleum-based Fuels by WDXRF According to ASTM D2622-16
ZSX Primus IVđť’ľ Ressourcen
Webinare
| Analysis of Hazardous Heavy Elements in Soil and Sediment | Aufzeichnung ansehen |
| A Non-Destructive XRF Technique for Rapid and Easy Screening of Residual Catalysts in APIs and Intermediates | Aufzeichnung ansehen |
| Quality control of API potency, excipient blend uniformity, and heavy metals impurities by non-destructive and direct analysis of intact pills by XRF | Aufzeichnung ansehen |
Rigaku Journal Artikel
 Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer ZSX Primus IVi |
Artikel lesen |
| Sample preparation for X-ray fluorescence analysis V. /　Fusion bead method—part 2: practical applications |
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| Sample preparation for X-ray fluorescence analysis IV./ Fusion bead method―part 1 basic principals |
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| Sample preparation for X-ray fluorescence analysis III. Pressed and loose powder methods |
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| Sample preparation for X-ray fluorescence analysis II. Pulverizing methods of powder samples |
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ZSX Primus IVđť’ľ Events
Erfahren Sie mehr ĂĽber unsere Produkte auf diesen Veranstaltungen
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Webinar: Quantitative Analysis with XRF – Calibration Steps for Accurate Results27. Februar 2026 - 27. Februar 2026Webinar
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Prospectors & Developers Assoc of Canada 20261. März 2026 - 4. März 2026Toronto, ON, Canada
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Anwendertreffen Röntgenfluoreszenz- und Funkenemissionsspektrometrie3. März 2026 - 4. März 2026Münster, Germany
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Pittcon 20269. März 2026 - 11. März 2026San Antonio, TX, USA
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APS 202616. März 2026 - 20. März 2026Denver, CO, USA
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International Battery 202623. März 2026 - 26. März 2026Orlando, FL, USA
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Analytica24. März 2026 - 27. März 2026Munich, Germany
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ACS Fall 202623. August 2026 - 27. August 2026Chicago, IL, USA
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MS&T 20264. Oktober 2026 - 7. Oktober 2026Pittsburgh, PA, USA
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GSA 202611. Oktober 2026 - 14. Oktober 2026Denver, CO, USA
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Gulf Coast Conference (GCC) 202613. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026Galveston, TX, USA
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AAPS PharmSci 360 - 202625. Oktober 2026 - 28. Oktober 2026New Orleans, LA, USA
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SERMACS 20264. November 2026 - 7. November 2026Memphis, TN, USA
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Eastern Analytical Symposium (EAS) 202616. November 2026 - 18. November 2026New Jersey
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MRS Fall 202629. November 2026 - 4. Dezember 2026Boston, MA, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20268. Dezember 2026 - 11. Dezember 2026Las Vegas, NV, USA
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