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ZSX Primus IVi

Sequentielles wellenlängendispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer mit Röhre unterhalb der Probe

Kompromisslose Röntgenanalyse von Flüssigkeiten, Legierungen und beschichteten Metallen

Das Hochleistungsmodell mit Röntgenröhre unterhalb der Probe ermöglicht die kompromisslose Analyse von Proben wie Flüssigkeiten, Legierungen und beschichteten Metallen. Das WDRFA-Spektrometer ZSX Primus IV𝒾 bietet überragende Leistung und Flexibilität bei der Analyse der komplexesten Proben. Es verfügt über ein 30 Mikrometer großes Röhrenfenster, das dünnste Standard-Röhrenfenster in der Branche, für außergewöhnliche Nachweisgrenzen für leichte Elemente (Low-Z).

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ZSX Primus IVi system ZSX Primus IVi with scientist loading samples ZSX Primus IVi with scientist loading samples (closeup)

ZSX Primus IVi Übersicht

Vakuum(trenn)system für die Analyse von Flüssigkeiten

Da die Spektrometerkammer immer unter Vakuum steht, ist der Wechsel von der Vakuumatmosphäre zur Heliumatmosphäre in weniger als zwei Minuten abgeschlossen. Darüber hinaus wird der Verbrauch von Heliumgas im Vergleich zu Modellen, bei denen die Spektrometerkammer ebenfalls gespült werden muss, erheblich reduziert.

Verbesserter Durchsatz

Die verbesserte Mechanik minimiert die Analyse-Totzeit. So konnte beispielsweise die Zeit für eine sequentielle quantitative Messung mit 16 Elementen von 348 Sekunden auf 287 Sekunden verkürzt werden, was einer Effizienzsteigerung von 18 % entspricht.

D-MCA Hochgeschwindigkeitsanalyse

Das Digital Multi-Channel Analyzer (D-MCA)-System ermöglicht eine digitale Hochgeschwindigkeitsverarbeitung für hohe Zählraten und damit eine verbesserte analytische Präzision und höhere Durchsatzgeschwindigkeiten.

Optisches System, das nicht leicht durch Höhenschwankungen der Probenoberfläche beeinträchtigt wird

Eine unebene Probenoberfläche führt zu Schwankungen im Abstand zwischen der Probe und der Röntgenröhre. Diese Unterschiede können zu Veränderungen in der Röntgenintensität führen. Die optischen Systeme von Rigaku ermöglichen die Unterdrückung der durch Abstandsschwankungen verursachten Änderungen der Röntgenintensität. Dies ermöglicht eine genaue Analyse, indem die Auswirkungen von Formunterschieden durch Schmelzformen, die bei der Glasperlenformulierung verwendet werden, und die Auswirkungen von unebenen Probenoberflächen beim Pressen von Pulverproben minimiert werden.

Punkt/Mapping-Analyse

Ausgestattet mit einer hochauflösenden Kamera, die es dem Benutzer ermöglicht, kleine Merkmale zur richtigen Identifizierung und Analyse heranzuzoomen. Ermöglicht eine genaue Analyse durch Beseitigung von Empfindlichkeitsunterschieden, die durch die Platzierung der Messung verursacht werden. Überlegenes Design nutzt den Hotspot der Röhre zur Maximierung der Intensität/Empfindlichkeit.

Verfeinerte SQX-Analyse

Die SQX-Analyse ist eine standardfreie FP-Analysesoftware zur Berechnung der genauen Element-Zusammensetzung. Jetzt noch einfacher zu bedienen als je zuvor.

Automatischer Reinigungsmechanismus für den Mitteldraht

Der Mitteldraht des F-PC-Detektors wird allmählich durch das Quenchgas des Proportionalzählers verunreinigt, wodurch sich die Auflösung verringert. Der Reinigungsmechanismus für den Mitteldraht ermöglicht die Wiederherstellung der Leistung, indem er die Verunreinigung des Mitteldrahts durch elektrische Heizung beseitigt, ohne dass die Stromquelle abgeschaltet oder das Gehäuse geöffnet werden muss.

Stickstoff- oder Helium-Spülmechanismus

Anstelle von Helium kann nun Stickstoffgas als atmosphärisches Gas verwendet werden. Bei Verwendung von Stickstoffgas liegt der Analysebereich des SQX 15P bis 96Cm. Bei Messungen in Stickstoffatmosphäre ist die Standardoption "SQX scattering FP method" nicht anwendbar.

ZSX Primus IVi Eigenschaften

Unterstützung bei Messung und Analyse: ZSX Guidance
Automatisierte Analyseeinstellungen mit verbesserter SQX-Analysesoftware der dritten Generation
ZSX Guidance Expertensystem-Software
Integriertes RFA-Know-how für anspruchsvolle Einstellungen. Verfügbare Applikationspakete ermöglichen eine schlüsselfertige Anwendung
Intuitive Software, programmierbar für tägliche Analysen mit Probentrays
Proben-ID-Einstellungen für jedes Tray (erleichtert einfaches Kopieren und Einfügen für eine effiziente Messvorbereitung)
Verbesserte Genauigkeit der Analyse von Flüssigkeitsproben
Korrektur des Geometrieeffekts, der durch die Geometrie der Becher für flüssige Proben verursacht wird
Hochgeschwindigkeits- und Hochpräzisionsmessungen
Die Effizienz der neuen Antriebssequenz verringert die Overhead-Zeit des Instruments
Einzigartige Funktionalität
Optik mit Röhre unterhalb der Probe ermöglicht praktische Funktionen, einschließlich neuer Korrekturen für Probenfolien

ZSX Primus IVi Videos

ZSX Primus IVi Spezifikationen

Technik Wellenlängendispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer (WDRFA)
Nutzen Element-Analyse von Feststoffen, Flüssigkeiten, Pulvern, Legierungen und Dünnschichten
Technologie Sequenzielle WDRFA mit Röntgenröhre unterhalb der Probe
Attribute Endfenster Typ Rh-Target 4 oder 3 kW, 54-Positionen-Autosampler, Analyse von Be bis Cm, Vakuum
Optionen He-flush
Zusätzliche Kristalle zur Analyse
r-θ-Stufe/Mapping
Computer Externer PC, MS Windows OS, ZSX-Software
Abmessungen 840 (B) x 1440 (H) x 980 (T) mm
Masse Ca. 600 kg (Kernelement)
Energiebedarf 3-phasig 200/208 V 40 A 50/60 Hz

ZSX Primus IVi Optionen

Folgendes Zubehör ist für dieses Produkt verfügbar:

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Halterungsfreie Lösung

Diese Option kann zum RFA-Spektrometer ZSX Primus IVi hinzugefügt werden, um Proben automatisch aus dem ASC-Magazin (Auto Sample Changer) zu transportieren und so eine kontinuierliche Messung und Automatisierung zu ermöglichen.

accessory photo
Ultra Carry

Ultra Carry ist ein neuartiger Einweg-Probenhalter für die RFA-Analyse, der verwendet wird, um eine Flüssigprobe in einem gleichmäßigen Probenhalter vorzukonzentrieren, der für die Unterdrückung von Hintergrundrauschen optimiert ist.

ZSX Primus IVi Application Notes

Die folgenden Application Notes sind für dieses Produkt relevant

ZSX Primus IVi Ressourcen

Webinare

Analysis of Hazardous Heavy Elements in Soil and Sediment Aufzeichnung ansehen
A Non-Destructive XRF Technique for Rapid and Easy Screening of Residual Catalysts in APIs and Intermediates Aufzeichnung ansehen
Quality control of API potency, excipient blend uniformity, and heavy metals impurities by non-destructive and direct analysis of intact pills by XRF Aufzeichnung ansehen

Rigaku Journal Artikel

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adobeSample preparation for X-ray fluorescence analysis V. /　Fusion bead method—part 2: practical applications Artikel lesen
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adobeSample preparation for X-ray fluorescence analysis III. Pressed and loose powder methods Artikel lesen
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ZSX Primus IVi Events

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