ZSX Primus IV
Sequenzielles wellenlängendispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer mit Röhre oberhalb der Probe
Element-Analyse von Feststoffen, Flüssigkeiten, Pulvern, Legierungen und Dünnschichten
Als ein sequenzielles, wellenlängendispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer (WDRFA) mit Röntgenröhre oberhalb der Probe ermöglicht das Rigaku ZSX PrimusIV die schnelle quantitative Bestimmung von Haupt- und Nebenatomelementen, von Beryllium (Be) bis Uran (U), in einer Vielzahl von Probentypen - mit minimalen Standards.
ZSX Primus IV Übersicht
Neue ZSX Guidance RFA-Expertensystem-Software
ZSX Guidance unterstützt Sie in allen Aspekten der RFA-Messung und Datenanalyse. Dass eine präzise Analyse nur von Experten durchgeführt werden kann, das ist Vergangenheit. Die ZSX Guidance Software, mit dem eingebauten RFA-Fachwissen und dem Know-how erfahrener Experten, übernimmt die anspruchsvollen Einstellungen. Die Anwender geben einfach grundlegende Informationen über Proben, Analysekomponenten und Standardzusammensetzung ein. Gemessene Linien mit der geringsten Überlappung, optimale Hintergründe und Korrekturparameter (einschließlich Linienüberlappungen) werden automatisch mit Hilfe von qualitativen Spektren eingestellt.
Außergewöhnliche RFA-Leistung bei leichten Elementen mit invertierter Optik für höchste Zuverlässigkeit
Das ZSX PrimusIV verfügt über eine innovative Optik-oben-Konfiguration. Machen Sie sich nie wieder Sorgen über einen kontaminierten Strahlengang oder Ausfallzeiten aufgrund von Wartungsarbeiten an der Probenkammer. Die Optik-oben-Geometrie macht die Reinigung überflüssig und verlängert die Betriebszeit. Das WDRFA-Spektrometer ZSX PrimusIV bietet überlegene Leistung und Flexibilität bei der Analyse komplexer Proben. Es verfügt über eine 30-Mikrometer-Röhre, die dünnste in der Branche erhältliche Endfenster-Röhre, für außergewöhnliche Nachweisgrenzen für leichte Elemente (Low-Z).
Mapping und Multi-Spot RFA-Analyse
In Kombination mit dem fortschrittlichsten Mapping-Paket zur Erkennung von Homogenität und Einschlüssen ermöglicht das ZSX PrimusIV eine einfache, detaillierte RFA-spektrometrische Untersuchung von Proben, die analytische Erkenntnisse liefert, die mit anderen Analysemethoden nur schwer zu gewinnen sind. Die verfügbare Multi-Spot-Analyse hilft außerdem, Probenahmefehler bei inhomogenen Materialien zu vermeiden.
SQX-Grundparameter mit EZ-scan Software
Mit EZ-scan können Sie RFA-Element-Analysen unbekannter Proben ohne vorherige Einrichtung durchführen. Diese zeitsparende Funktion erfordert nur ein paar Mausklicks und die Eingabe eines Probennamens. In Kombination mit der SQX-Software für grundlegende Parameter liefert es die genauesten und schnellsten RFA-Ergebnisse. SQX ist in der Lage, alle Matrixeffekte, einschließlich Linienüberlappungen, automatisch zu korrigieren. SQX kann auch sekundäre Anregungseffekte durch Photoelektronen (leichte und ultraleichte Elemente), unterschiedliche Atmosphären, Verunreinigungen und unterschiedliche Probengrößen korrigieren. Eine erhöhte Genauigkeit wird durch den Einsatz der Matching-Library- und Perfect-Scan-Analyseprogramme erreicht.
Stickstoff- oder Helium-Flush-Mechanismus
Stickstoffgas kann jetzt anstelle von Helium als atmosphärisches Gas verwendet werden. Wenn Stickstoffgas verwendet wird, beträgt der Analysebereich des SQX 15P bis 96Cm. Bei Messungen in Stickstoffatmosphäre ist die Standardoption "SQX scattering FP method" nicht anwendbar.
ZSX Primus IV Eigenschaften
ZSX Primus IV Videos
ZSX Primus IV Spezifikationen
| Technik | Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA) | |
|---|---|---|
| Nutzen | Element-Analyse von Feststoffen, Flüssigkeiten, Pulvern, Legierungen und Dünnschichten | |
| Technologie | Sequenzielle WDRFA mit Röntgenröhre oberhalb der Probe | |
| Attribute | 3 oder 4 kW versiegelte Röntgenröhre, 48-Positionen-Autosampler, Analyse von Be bis U, Vakuum | |
| Optionen | He-Flush, zusätzliche Analysekristalle, r-θ Stufe/Mapping | |
| Computer | Externer PC, MS Windows OS, ZSX-Software | |
| Abmessungen | 1310 (B) x 1470 (H) x 890 (T) mm | |
| Masse | Ca. 620 kg (Kernelement) | |
| Energiebedarf | 1Ø, 200 VAC 50/60 Hz, 8 kW | |
ZSX Primus IV Optionen
Folgendes Zubehör ist für dieses Produkt verfügbar:
Automatisierungslösung
Automatischer Transport der Messproben zum Gerät, wodurch eine kontinuierliche Messung ermöglicht wird.
ZSX Primus IV Application Notes
Die folgenden Application Notes sind für dieses Produkt relevant
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XRF1131 - Standardless FP Analysis of Lithium-ion Battery Cathode Material LiFePO₄ by ZSX Primus IV
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BATT1021 - Composition Analysis for Argyrodite-Based Sulfide Solid Electrolyte Material
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BATT1007 - Impurity Analysis for Graphite Anodes
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BATT1006 - Impurity Analysis for NCM Cathode Material
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BATT0004 - Chemical Composition Analysis of NMC Cathode
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BATT0001 - Battery Material Development
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WDXRF1099 - Trace Element Analysis in Geological Samples by the Pressed Powder Method, using GEO-TRACE-PAK
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WDXRF1085 - Trace Element Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
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WDXRF1071 - Semi-quantitative FP Analysis of Geological Samples
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WDXRF1023 - Pt, Rh and Pd Analysis of Used Automobile Catalyst by WDXRF
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WDXRF1084 - Mapping and Small Spot Analysis with a General-Purpose XRF Spectrometer
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WDXRF1101 - Fused Bead Analysis for Refractories using Application Package Refractory Series
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WDXRF1100 - Fused Bead Analysis for Wide Concentration Ranges of Various Oxide Materials using OXIDE-FB-PAK
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WDXRF1092 - Fixed Angle Measurement using the Semi-Quantitative Analysis Function SQX of ZSX Guidance Software
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WDXRF1096 - Fe, Ni and Co Based Alloy Analysis by Fundamental Parameter Method using ZSX Primus III+
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WDXRF1070 - Chlorine Analysis of Aluminosilicate for Fluid Catalytic Cracking Catalyst by WDXRF
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WDXRF1086 - Boron and Fluorine Quantitative Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
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WDXRF1088 - Boron Analysis in Glass Powder
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WDXRF1091 - Beryllium Analysis in Beryllium Copper Alloy using ZSX Primus IV with RX85
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WDXRF1109 - Automatic Quant Application Setup Applied to Calibrating Coal Fly Ash Fused Beads
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WDXRF1089 - Analysis of Hazardous Heavy Elements in Soil and Sediment using ZSX Primus IV
ZSX Primus IV Ressourcen
Webinare
| Analysis of Hazardous Heavy Elements in Soil and Sediment | Aufzeichnung ansehen |
| Building Quantitative XRF Methods on the ZSX Primus IV for Pharmaceuticals | Aufzeichnung ansehen |
| A Non-Destructive XRF Technique for Rapid and Easy Screening of Residual Catalysts in APIs and Intermediates | Aufzeichnung ansehen |
| Direct CNOX analysis of solid forms for confirmation of composition and determination of salts/stoichiometry, hydrates, and solvates by WDXRF | Aufzeichnung ansehen |
| The Use of Easy XRF Elemental Analyses Techniques to Support the Development of Pharmaceutical Formulations | Aufzeichnung ansehen |
| Quality control of API potency, excipient blend uniformity, and heavy metals impurities by non-destructive and direct analysis of intact pills by XRF | Aufzeichnung ansehen |
Rigaku Journal Artikel
 X-ray Fluorescence Analysis of Liquid Samples without Helium Gas |
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| Standardless FP XRF analysis for lithium ion battery electrode materials |
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| X-ray analysis of a magnesium alloy expected to be a useful lightweight material |
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| OIL-MULTI-PAK for multi-elements analysis of oils using pre-calibration package |
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| Water analysis by X-ray fluorescence spectrometry using UltraCarry |
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| Determination of refractory products with the XRF quantitative application package |
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| Advanced ZSX Guidance—Semi-quantitative analysis (SQX analysis) |
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| Cement analysis by wavelength dispersive XRF spectrometry |
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| Sample preparation for X-ray fluorescence analysis VIII. Liquid solidification method |
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| Comparison of analysis results between the fusion method and the pressed powder method for powder sample analysis |
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| Thickness and composition analysis of thin film samples using FP method by XRF analysis |
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| Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer: ZSX Primus IV |
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| Sample preparation for X-ray fluorescence analysis IV./ Fusion bead method―part 1 basic principals |
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| Sample preparation for X-ray fluorescence analysis III. Pressed and loose powder methods |
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| Sample preparation for X-ray fluorescence analysis II. Pulverizing methods of powder samples |
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ZSX Primus IV Events
Erfahren Sie mehr über unsere Produkte auf diesen Veranstaltungen
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EventDatumOrtEvent-Webseite
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Webinar: Quantitative Analysis with XRF – Calibration Steps for Accurate Results27. Februar 2026 - 27. Februar 2026Webinar
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Prospectors & Developers Assoc of Canada 20261. März 2026 - 4. März 2026Toronto, ON, Canada
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Anwendertreffen Röntgenfluoreszenz- und Funkenemissionsspektrometrie3. März 2026 - 4. März 2026Münster, Germany
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Rigaku UK User Meeting 20264. März 2026 - 5. März 2026Oxfordshire, UK
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Pittcon 20269. März 2026 - 11. März 2026San Antonio, TX, USA
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APS 202616. März 2026 - 20. März 2026Denver, CO, USA
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ACS Spring 202622. März 2026 - 26. März 2026Atlanta, GA, USA
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International Battery 202623. März 2026 - 26. März 2026Orlando, FL, USA
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Analytica24. März 2026 - 27. März 2026Munich, Germany
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Chembio Exhibition15. April 2026 - 16. April 2026Helsinki, Finland
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MRS Spring 202626. April 2026 - 1. Mai 2026Hawaii, HI, USA
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Canadian Chemistry Conf 202624. Mai 2026 - 28. Mai 2026Toronto, ON, Canada
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3rd Global CemCCUS Conference, Exhibitio9. Juni 2026 - 10. Juni 2026Hamburg, Germany
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Denver X-ray Conference (DXC) 20263. August 2026 - 7. August 2026Lombard, IL, USA
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12th Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing (PRICM12)9. August 2026 - 13. August 2026Gold Coast Queensland, Australia
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ACS Fall 202623. August 2026 - 27. August 2026Chicago, IL, USA
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MS&T 20264. Oktober 2026 - 7. Oktober 2026Pittsburgh, PA, USA
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GSA 202611. Oktober 2026 - 14. Oktober 2026Denver, CO, USA
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Gulf Coast Conference (GCC) 202613. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026Galveston, TX, USA
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AAPS PharmSci 360 - 202625. Oktober 2026 - 28. Oktober 2026New Orleans, LA, USA
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SERMACS 20264. November 2026 - 7. November 2026Memphis, TN, USA
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Eastern Analytical Symposium (EAS) 202616. November 2026 - 18. November 2026New Jersey
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MRS Fall 202629. November 2026 - 4. Dezember 2026Boston, MA, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20268. Dezember 2026 - 11. Dezember 2026Las Vegas, NV, USA
ZSX Primus IV Trainings
Bevorstehende Schulungen
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TitleDatesCostLocationNotesCourse outlineRegistration form
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ZSX Primus IV & Supermini200 training (EMEA)23. Februar 2026 - 25. Februar 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanyZSX Primus IV & Supermini200 training
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WDXRF training (USA)13. April 2026 - 15. April 2026$5000Hybrid; The Woodlands
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ZSX Primus IV & Supermini200 training (EMEA)14. September 2026 - 16. September 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanyZSX Primus IV & Supermini200 training
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WDXRF training (USA)19. Oktober 2026 - 21. Oktober 2026$5000Hybrid; The Woodlands
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ZSX Primus IV & Supermini200 training (EMEA)30. November 2026 - 2. Dezember 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanyZSX Primus IV & Supermini200 training
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