SmartLab SE
Multifunktionales Röntgendiffraktometer mit integrierter intelligenter Benutzerführung
Pulverdiffraktometrie, Dünnschichtdiffraktometrie, SAXS, Polefigur, Restspannung und Experimente unter Non-Ambient-Bedingungen
Das SmartLab SE ist ein äußerst vielseitiges Mehrzweck-Röntgendiffraktometer mit integrierter intelligenter Führung. Es bietet eine Weiterentwicklung der ursprünglichen benutzerfreundlichen Funktionen, für die das ursprüngliche SmartLab im Jahr 2006 mit dem R&D 100 Award ausgezeichnet wurde: automatische Ausrichtung, Komponentenerkennung, Kreuzstrahloptik und fortschrittliche Photonenzähl-Hybrid-Pixelarray-Detektoren (HPAD).
SmartLab SE Übersicht
SmartLab Studio II verfügt über ein integriertes Guidance-Expertensystem, das die optimale Hardwarekonfiguration und Einstellungen für bestimmte Anwendungsmessungen vorschlägt. Die Software ermittelt die für eine bestimmte Anwendung am besten geeigneten Optiken, legt die Geräteeinstellungen fest, führt die Messung durch und liefert eine vollständig automatisierte Messsequenz. Da SmartLab SE über eine integrierte Komponentenerkennung verfügt, teilt Ihnen Guidance nicht nur mit, wie Sie SmartLab SE für eine bestimmte Messung konfigurieren sollten, sondern warnt Sie auch, wenn Sie es nicht richtig konfiguriert haben. Kompetente Beratung in Verbindung mit Hardware, die die richtige Konfiguration bestätigt, bildet die Grundlage der SmartLab SE-Plattform.
HyPix-400: 2D-Detektor der nächsten Generation
Mit dem SmartLab SE führt Rigaku den HyPix-400 ein, einen Halbleiter-Hybrid-Pixelarray-Detektor, der speziell für vielseitige Röntgendiffraktometer entwickelt wurde. Seine große aktive Fläche, hohe Winkelauflösung und sein extrem hoher Dynamikbereich machen ihn zur perfekten, kostengünstigen 2D-Detektorlösung für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Pulver- und Dünnschichtbeugung. Bitte beachten Sie, dass der Siliziumstreifendetektor D/teX Ultra 250 auf Wunsch auch als Standarddetektor erhältlich ist.
Automatische Ausrichtung für maximale Betriebszeit
Das Ändern der Hardwarekonfigurationen oder Verbrauchsmaterialien bei einigen Diffraktometern ist so anspruchsvoll, dass häufig ein Servicetechniker hinzugezogen werden muss. Dies kann kostspielig und zeitaufwendig sein. Die Optikkonfiguration des SmartLab SE ist selbstausrichtend. Von der Röhrenhöhe bis zur Ausrichtung des Monochromators erfolgt die gesamte optische Ausrichtung automatisch unter Computersteuerung. Diese Funktion reduziert die Ausfallzeiten und Betriebskosten des Geräts erheblich und gibt Ihnen die Gewissheit, dass Ihr Gerät immer in einem ausgerichteten Zustand ist.
SmartLab SE Eigenschaften
SmartLab SE Videos
SmartLab SE Spezifikationen
| Technik | Röntgendiffraktion (XRD) | |
|---|---|---|
| Nutzen | Pulverdiffraktometrie, Dünnschichtdiffraktometrie, SAXS, Polefigur, Restspannung und Experimente unter Non-Ambient-Bedingungen | |
| Technologie | Vielseitiges θ-θ-Röntgendiffraktometer mit integrierter intelligenter Benutzerführung | |
| Attribute | 3 kW versiegelte Röntgenröhre D/teX Ultra 250 Siliziumstreifendetektor Vertikale θ-θ-Geometrie |
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| Optionen | HyPix-400 (2D-HPAD-) Detektor | |
| Computer | Externer PC, MS Windows OS, SmartLab Studio II Software | |
| Abmessungen | 1270 (B) x 1880 (H) x 1220 (T) mm | |
| Masse | Ca. 800 kg (Kernelement) | |
| Leistungsanforderungen | 3Ø, 200 VAC 50/60 Hz 30 A oder 1Ø, 220-230 VAC 50/60 Hz 40 A |
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SmartLab SE Optionen
Folgendes Zubehör ist für dieses Produkt verfügbar:
SmartLab SE Application Notes
Die folgenden Application Notes sind für dieses Produkt relevant:
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XRD2001 - Orientation and Residual Stress Evaluation in Metal Thin Films
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BATT1012 - Inference of Valence and Li Ion Diffusion Path Using the BVS Method
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BATT1011 - Measurement of Cathode Material NCM Using XSPA-400 ER High-Energy Resolution Detector
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BATT1010 - Investigation of Phase Transition Behavior upon Cathode Material NCM Firing
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BATT1001 - Qualitative Analysis of Impurities (Sulfate) in Mixed Nickel-Cobalt Sulfide
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PHRM0002 - In-Situ DSC-Humidity PXRD Analysis for Pharmaceuticals
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BATT0003 - Battery Performance
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BATT0001 - Battery Material Development
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B-XRD1143 - Verifying the Validity of Crystallite Sizes Determined by the FP Method
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B-XRD1129 - Variable Humidity Measurement of a Drug Substance using XRD-DSC and a Humidity Controller
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B-XRD1118 - Quick Pole Figure Measurement of a Metal Material using 2DD
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B-XRD1119 - Quantitative Characterization of Polymer film by Orientation Function
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B-XRD1115 - Quantitative Analysis of γ-Al₂O₃ by the DD Method
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B-XRD1132 - Quantitative Analysis of Glass with the DD Method
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B-XRD1142 - Quantitative Analysis of Crystal Polymorphs by the DD Method
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B-XRD1093 - Quantitative Analysis of Amorphous Components in Cement
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B-XRD1001 - Quantitative Analysis of a 4-component Sample
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B-XRD1111 - Quantitative Analysis of 3-component Sample by DD method
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B-XRD1146 - Quantification of Blast Furnace Slag by Rietveld Refinement using Reference Intensity Ratio
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B-XRD1002 - Quantification of a 4-component Sample using RIR method
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B-XRD1121 - Phase Identification of Mixed Powder by Real-time Analysis
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B-XRD1103 - Phase Identification of a Coarse-grained Trace Component in a Mineral Powder using 2D XRD
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B-XRD1021 - Phase Changes of Pharmaceuticals as a Function of Temperature and Humidity
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B-XRD1030 - Particle Diameter Distribution of Gold Nanoparticles
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B-XRD1020 - Observation of Dehydration Process of Hydrate by XRD-DSC
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B-XRD1128 - Observation of Dehydration Behavior of a Drug Substance using TG-DTA and XRD-DSC
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B-XRD1117 - Observation of a Phase Transition at High Temperature under Various Atmospheres
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B-XRD1023 - Measurement of Pseudo-polymorph Impurities in Tablets
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B-XRD1063 - Measurement of a Film Sample
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XRD1003 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (3): Confirming Hydrates
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XRD1002 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (2): Confirming the Presence/absence of Amorphous Substances
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XRD1001 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (1): Confirming the crystal form of an API
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B-XRD1147 - High-precision Quantitative Analysis of Clinker Mineral Polymorphs by Rietveld Refinement
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B-XRD2030 - Evaluation of Uniformity of Thin Film Thickness by X-ray Reflectivity Mapping
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B-XRD2027 - Evaluation of Uniformity of a Single CrystalSubstrate by Rocking Curve Measurement
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B-XRD3005 - Evaluation of Residual Stress of Thin Films by GI-XRD and the Multiple hkl Method
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B-XRD1113 - Evaluation of Oxidation State by the BVS Method
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B-XRD1150 - Evaluation of Graphitization Degree of Lithium-ion Battery Carbon Anode Material by X-ray Diffractometry
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B-XRD1104 - Evaluation of Grain Condition and Orientation of Cemented carbide using 2D XRD
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B-XRD2031 - Evaluation of Curvature of a Single Crystal Substrate by Rocking Curve Measurement
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B-XRD1078 - Evaluation of Crystallite Size and Pore Size distribution of Fuel Cell Materials
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B-XRD1149 - Evaluation of Barium Titanate Polymorphs by Rietveld Analysis
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B-XRD1018 - Crystallite Size Distribution of Zinc Oxide Nanoparticles
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B-XRD1071 - Crystallite Size Analysis of a Catalyst Material by the Scherrer Method
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B-XRD1014 - Crystal Orientation Analysis of Rolled Sheet Material by Pole Figure Measurement
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B-XRD1009 - Charging-discharging of Cathode Materials in Li-ion Batteries
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B-XRD1106 - Charge/discharge Process of Li-ion Battery Positive Electrode
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B-XRD2025 - Analysis of Uniaxially Oriented Film by Wide-range RSM
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B-XRD2026 - Analysis of Epitaxial Films on In-plane Anisotropic Substrates by Wide-Range RSM
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B-XRD1140 - Accurate and Highly Precise Quantitative Analysis of Cement Samples using Rietveld Refinement
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B-XRD1011 - Temperature Dependence of a Lattice Constant
SmartLab SE Ressourcen
Webinare
| X-ray Diffraction Measurements for Battery Research | Aufzeichnung ansehen |
| How to Run in Operando XRD Experiments | Aufzeichnung ansehen |
| When to Use XRD and How to Set Up Experiments for Li-ion Battery Research | Aufzeichnung ansehen |
| Simultaneous XRD-DSC – The sum Is Much Greater than the Parts | Aufzeichnung ansehen |
| Component Analysis and Standardless Quantitative Analysis for Pharmaceutical Applications | Aufzeichnung ansehen |
| In-Depth Overview of the Use of X-ray Diffraction (XRD) in the Investigation of Asbestos and Respirable Silica | Aufzeichnung ansehen |
| Powder X-ray Diffraction (XRD) for Pharmaceuticals | Aufzeichnung ansehen |
| Dissolution Rate Enchancement of Poorly Water Soluble Drugs - Role in XRPD in the Pharmaceutical Formaulation Development | Aufzeichnung ansehen |
| Combined XRD-DSC for Pharmaceuticals | Aufzeichnung ansehen |
| The Application of Chemometric and Statistical Analysis Techniques for X-ray Diffraction Data: Quantitative Analysis and Lot Release | Aufzeichnung ansehen |
| Introduction of Part 11 Compliant Features in SmartLab Studio II | Aufzeichnung ansehen |
| On the Diffraction Line Profiles in the Rietveld Method | Aufzeichnung ansehen |
Rigaku Journal Artikel
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SmartLab SE Events
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EventDatumOrtEvent-Webseite
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13th European NESY Winterschool22. Februar 2026 - 27. Februar 2026Bad Aussee, Austria
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34th Annual Meeting of the German Crystallographic Society (DGK)25. Februar 2026 - 28. Februar 2026Lübeck, Germany
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37. Deutsche Zeolith-Tagung in Stuttgart25. Februar 2026 - 27. Februar 2026Stuttgart, Germany
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Prospectors & Developers Assoc of Canada 20261. März 2026 - 4. März 2026Toronto, ON, Canada
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DKT 20263. März 2026 - 6. März 2026Karlsruhe, Germany
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Rigaku UK User Meeting 20264. März 2026 - 5. März 2026Oxfordshire, UK
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Pittcon 20269. März 2026 - 11. März 2026San Antonio, TX, USA
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HäKo 202611. März 2026 - 13. März 2026Bonn, Germany
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APS 202616. März 2026 - 20. März 2026Denver, CO, USA
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ACS Spring 202622. März 2026 - 26. März 2026Atlanta, GA, USA
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International Battery 202623. März 2026 - 26. März 2026Orlando, FL, USA
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Analytica24. März 2026 - 27. März 2026Munich, Germany
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Rigaku Taiwan professional training courses (XRD)27. März 2026 - 27. März 2026Rigaku Taiwan (RTC-TW)
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BCA Spring Meeting 202630. März 2026 - 1. April 2026Leeds, United Kingdom
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Chembio Exhibition15. April 2026 - 16. April 2026Helsinki, Finland
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MRS Spring 202626. April 2026 - 1. Mai 2026Hawaii, HI, USA
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COPS XII - 12th International Symposium on the Characterization of Porus Solids4. Mai 2026 - 6. Mai 2026Dresden, Germany
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Metal-Organic Frameworks Workshop 202617. Mai 2026 - 20. Mai 2026New Orleans, LA, USA
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Canadian Chemistry Conf 202624. Mai 2026 - 28. Mai 2026Toronto, ON, Canada
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WOCSDICE/EXMATEC 202624. Mai 2026 - 28. Mai 2026Gdańsk, Poland
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E-MRS 2026 Spring Meeting25. Mai 2026 - 29. Mai 2026Strasbourg, France
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ICDD Summer School 20261. Juni 2026 - 5. Juni 2026Newton Square, PA
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ACA Summer School 20267. Juni 2026 - 14. Juni 2026West Lafayette, IN, USA
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PorMat 20269. Juni 2026 - 10. Juni 2026Bristol, UK
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Physics of Magnetism 202622. Juni 2026 - 26. Juni 2026Poznan, Poland
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DSL-2026 Conference22. Juni 2026 - 26. Juni 2026Rhodes, Greece
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EPDIC 1923. Juni 2026 - 26. Juni 2026Crans Montana, Switzerland
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Mineralogical Society at 150: Past Discoveries and Future Frontiers23. Juni 2026 - 25. Juni 2026Manchester, UK
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Polish Crystallographic Meeting + Olympic24. Juni 2026 - 26. Juni 2026Wroclaw, Poland
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International workhop on Gallium Oxide 20262. August 2026 - 8. August 2026College Park, MD
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Denver X-ray Conference (DXC) 20263. August 2026 - 7. August 2026Lombard, IL, USA
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12th Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing (PRICM12)9. August 2026 - 13. August 2026Gold Coast Queensland, Australia
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27th Congress and General Assembly of the IUCr11. August 2026 - 18. August 2026Calgary, Alberta, Canada
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ACS Fall 202623. August 2026 - 27. August 2026Chicago, IL, USA
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MS&T 20264. Oktober 2026 - 7. Oktober 2026Pittsburgh, PA, USA
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GSA 202611. Oktober 2026 - 14. Oktober 2026Denver, CO, USA
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Battery Show 202612. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026Detroit, MI, USA
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Gulf Coast Conference (GCC) 202613. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026Galveston, TX, USA
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AAPS PharmSci 360 - 202625. Oktober 2026 - 28. Oktober 2026New Orleans, LA, USA
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SERMACS 20264. November 2026 - 7. November 2026Memphis, TN, USA
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Eastern Analytical Symposium (EAS) 202616. November 2026 - 18. November 2026New Jersey
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MRS Fall 202629. November 2026 - 4. Dezember 2026Boston, MA, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20268. Dezember 2026 - 11. Dezember 2026Las Vegas, NV, USA
SmartLab SE Trainings
Bevorstehende Schulungen
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TitleDatesCostLocationNotesCourse outlineRegistration form
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SmartLab training (EMEA)8. März 2026 - 12. März 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)28. Juni 2026 - 2. Juli 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)18. Oktober 2026 - 22. Oktober 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
SmartLab SE
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