什麼是工業級 SAXS / WAXS？
奈米級材料形貌與結構表徵
小角度 X光散射（SAXS）作為一種奈米尺度散射技術，可精確量化樣品中的奈米級密度差異。該技術能夠測定奈米顆粒的粒徑分佈、解析（單分散）大分子的尺寸和形狀、孔徑大小、部分有序材料的特徵間距等參數。其原理是透過分析 X光穿透材料時產生的彈性散射行為，記錄其在小角度範圍（通常為 0.1 - 10°）的散射訊號。SAXS技術適用於表徵顆粒體系的微觀/奈米級結構特徵，包括平均粒徑、形貌、分佈及比表面積等關鍵參數。該技術對固態或液態樣品均適用，可分析包含固/液/氣態（即所謂「顆粒」）的多相體系。除顆粒體系外，還能解析層狀結構及以及具有分形特徵的材料結構。
