應力分析產品系列

X光繞射（XRD）是材料科學和工程領域中表徵晶體材料內應力的核心技術手段：其繞射圖譜不僅包含晶體結構訊息，更可透過晶面間距變化分析應力狀態。當材料受應力作用時，其晶面間距會發生相應畸變，進而導致繞射峰偏移或寬化。透過對這些特徵的定量分析，可實現材料內部的應力大小及其分佈的精確表徵，為承載工程零件的設計和優化提供關鍵的數據支援。