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nano3DX

具有增強對比度 X光陽極的真正次微米級 CT 掃描系統

三維 X光顯微鏡

理學 nano3DX 是一款真正具備次微米解析度的CT(電腦斷層掃描)掃描儀。平行光束幾何結構與超高亮度 1200 W 旋轉陽極 X光源相結合,增強了對軟材料的成像對比度,而這類材料通常使用高能 X光源時較難成像。X光陽極可在 Cr(5.4 keV)、Cu(8 keV)或 Mo(17 keV)中選擇,以獲得低能量、準單色輻射,從而針對給定的樣品材料和尺寸最大化成像對比度。在使用最高倍率物鏡時,nano3DX 可實現 325 nm 的體素解析度和真正的次微米(700 nm)空間解析度。

nano3DX 系统 nano3DX 样品安装 nano3DX system nano3DX sample mounting

nano3DX 概覽

如何實現高解析度?

理學 nano3DX 採用 平行光束幾何結構。這種結構使用光學透鏡對樣品圖像進行放大,而不是利用X光束的發散角,因此消除了X光焦點尺寸和漂移造成的模糊。利用 20倍放大倍率 ,可以實現 325 nm的體素解析度和真正的次微米(700 nm)空間解析度。
在這種解析度下,可以看到單根碳纖維(約 7.5 微米)、種子的精細結構、小型昆蟲等。

 

parallel beam geometry

 

如何更換 X光陽極?

理學 nano3DX 配備了雙波長旋轉陽極 X光產生器 MicroMax-007 HF。旋轉 X光陽極由銅製成,可提供 8 keV 的銅靶光源。另外可以在銅陽極上添加其它陽極材料,如 5.4 keV的 Cr、17 keV的 Mo或 W(軔致輻射),以提供第二種X光。您只需在儀器控制軟體上簡單點擊,即可在兩種X光之間進行切換。
透過使用優化的X光,可以對有機材料中僅 5% 密度差異進行成像,並能區分非晶相和晶相、高密度和低密度聚乙烯等。

nano3DX-anode-change

 

我需要以特殊方式製備樣品嗎?

不需要,X光 CT 測量只需最少的樣品製備,甚至不需要樣品製備。只要樣品尺寸接近 FOV(視場),就可以用一個小針將樣品原樣安裝在樣品臺上,然後就可以進行 CT 掃描了。

由於 X光 CT 實驗是在空氣中進行的,不需要像掃描電子顯微鏡(SEM)那樣對樣品進行導電處理,因此植物等有機樣品無需進行乾燥或塗層處理即可進行測量。

 

nano3DX sample mounting

比較所有 CT 產品。

nano3DX 功能

325 納米體素/700 納米空間分辨率
平行光束幾何設計,實現真正的亞微米分辨率
低密度材料的最佳 X 射線能量
可選準單色 X 射線輻射
掃描時間更短
超亮 1200 W X 射線源和 sCMOS 可提高 X 射線計數和探測效率

nano3DX 影片

nano3DX 技術規格

體素分辨率 325 納米 - 10 微米
視場角(FOV) 0.66 - 20 毫米
最大樣品尺寸 直徑 20 毫米 x 高度 40 毫米
速度(最短掃描時間) 30 秒
幾何學 平行光束幾何
X 射線源 1200W 旋轉陽極微焦點源
X 射線能量 準單色源:鉻Cr(5.4 keV),銅Cu(8 keV),鉬Mo(17 keV)傳統光源:W 靶,工作電壓 60 kV
鏡片 1.25倍、2.5倍、5倍、10倍、20倍
探測器 高分辨率 sCMOS
探測器像素大小 6.5 微米
探測器陣列 2048 x 2048像素
外形尺寸 1300(寬)x 1880(高)x 655(深) mm (不含電腦、冷卻器、真空泵)
重量 約 600 千克

nano3DX 選配項目

本產品可選配以下配件:

Dragonfly

X-ray CT image visualization, processing, segmentation, and quantitative analysis software

VGSTUDIO

X-ray CT image visualization, image processing, quantitative and dimensional analyses software

nano3DX 應用說明

以下應用說明與本產品相關

nano3DX 資源

nano3DX 活動

在以下活動中深入了解我們的產品

  • AAPS PharmSci 360 - 2026
    2026年10月25日 - 2026年10月28日
    New Orleans, LA, USA
  • Webinar: Integrate Analytical Instruments into Your Self-driving Lab
    2026年11月11日 - 2026年11月11日
    Webinar
  • MATERIAUX 2026
    2026年11月16日 - 2026年11月20日
    Grenoble, France
  • Advanced Automotive Battery Conf 2026
    2026年12月8日 - 2026年12月11日
    Las Vegas, NV, USA

客戶評價

  • Gerald Poirier的照片
    The technical knowledge, professionalism, willingness to answer ours question in a timely manner, is appreciated. My users also enjoy the educational webinars offered on a wide range of imaging subjects.
    閱讀完整評價
    Gerald Poirier
    Director
    Advanced Materials Characterization Lab | University of Delaware
  • Leilei Yin, PhD的照片
    Very pleasant experience with CT Lab GX 130 and nano3DX. Excellent build quality. Very knowledgeable staff and professional service.
    閱讀完整評價
    Leilei Yin, PhD
    Retired
    This testimonial was given by Dr. Yin when he was employed at The Beckman Institute University of Illinois at Urbana-Champaign.

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