Parce que nous comprenons combien l’analyse de matériaux peut être difficile et exigeante, nous fournissons des outils faciles à utiliser pour vous aider à obtenir les résultats et les informations dont vous avez besoin en toute confiance.
Piles
Les analyses aux rayons X sont idéales pour une large gamme d'analyses de matériaux pour batteries, depuis les changements structurels au niveau atomique dans les électrodes au cours du processus de charge et de décharge jusqu'à l'analyse des défauts des batteries emballées.
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Semi-conducteurs
La métrologie aux rayons X est fréquemment utilisée pour l'analyse élémentaire, l'analyse de la structure des couches et la cartographie des dislocations. C’est une technique essentielle à l'industrie des semi-conducteurs dans le domaine de la recherche et le développement, l'optimisation des processus et le contrôle qualité.
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Électronique
Les analyses aux rayons X jouent un rôle essentiel dans le développement et l’optimisation du traitements des matériaux électroniques. Elles peuvent être utilisées aussi bien pour mener des analyses élémentaires et structurelles que pour détecter des défauts par imagerie.
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Ciment
Les analyses aux rayons X révèlent les caractéristiques détaillées des matières premières et des produits cimentiers, contribuant ainsi à l'optimisation des processus et au contrôle de la qualité.
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Sciences de la vie
Les diffractomètres de rayons X et d'électrons sont essentiels dans les sciences de la vie pour résoudre la structure cristalline de protéines et petites molécules à différents stades d’avancement des projects, de la recherche préliminaire au développement. D’autre part, l’imagerie moléculaire multimodale est utilisée pour les études précliniques, et la tomographie aux rayons X pour l'imagerie des tissus mous et des plantes.
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Produits pharmaceutiques
La diffraction des rayons X et des électrons permet la détermination de structures cristallines dès les premières étapes du développement de nouveaux medicaments; par la suite, la diffraction des rayons X sur poudres permet de quantifier les polymorphes et mesurer la cristallinité des composés. La spectroscopie Raman est utilisée pour l'identification des matières premières et des contrefaçons.
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Métrologie des semi-conducteurs
Outils de métrologie aux rayons X pour la recherche, le développement des procédés de fabrication ainsi que la fabrication en grande série des semi-conducteurs.
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Cristallographie
Diffractomètres de rayons X et d’électrons pour la cristallographie afin de déterminer la structure tridimensionnelle de matériaux cristallins au niveau atomique.
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Diffraction et diffusion des rayons X
Des diffractomètres de rayons X pour étudier les matériaux cristallins et amorphes au niveau atomique et des instruments de diffusion des rayons X pour étudier les morphologies à l'échelle du nanomètre.
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Spectromètres XRF
Spectromètres à fluorescence X pour l'analyse élémentaire qualitative et quantitative de divers matériaux, y compris les minéraux, les métaux, le ciment, les produits pétroliers et les polymères.
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Imagerie par rayons X et tests non destructifs
Tests non destructifs par radiographie pour l’inspection des produits et imagerie pour la recherche de nouveaux matériaux et de produits pour les sciences de la vie, l’optimisation des processus et la détection des défauts.
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Spectroscopie Raman
Analyseurs Raman portatifs pour la détection des dangers chimiques et l'identification et la vérification de divers matériaux, y compris les drogues et les explosifs.
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