AppNote B-XRD1144: 使用银薄膜过滤器收集样品和创建游离硅酸的标准曲线
导言
吸入二氧化硅中的晶体硅微粒会危害呼吸系统，因此需要控制粉尘中晶体硅(游离硅酸)的含量。在过滤器上采集样品后，可使用粉末X射线衍射法测量并对游离硅酸进行定量分析。而用于收集的过滤器包括氟树脂纤维滤纸和银薄膜过滤器等。美国国家职业安全卫生研究所的环境粉尘测量方法(NIOSH7500)提倡使用银薄膜过滤器进行分析。在此，使用银薄膜过滤器收集样品并创建游离硅酸的标准曲线，研究检测限和定量下限。
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