Abundancia de partes componentes de una muestra
La química analítica se puede dividir en dos tipos principales: cualitativo y cuantitativo. En el análisis cualitativo, el objetivo es establecer la presencia de un elemento, compuesto o fase en una muestra. Del mismo modo, el análisis cualitativo orgánico o bioquímico busca establecer la presencia de un grupo funcional, compuesto orgánico o ligando en una muestra. Por el contrario, el análisis cuantitativo busca establecer la cantidad de un elemento, compuesto u otro componente dado en una muestra.
En la fluorescencia de rayos X (XRF), un electrón puede ser expulsado de su orbital atómico mediante la absorción de rayos X (fotones) de un tubo de rayos X. Cuando se expulsa un electrón orbital interno (imagen central), se transfiere un electrón de mayor energía para llenar la vacante. Durante esta transición, se puede emitir un fotón característico (imagen derecha) que tiene una energía única para cada tipo de átomo. El número de fotones característicos por unidad de tiempo (conteos por segundo o cps) es proporcional a la cantidad de ese elemento en una muestra. Por lo tanto, el análisis elemental cualitativo y cuantitativo se logra determinando la energía de los picos de rayos X en un espectro de muestra y midiendo sus tasas de conteo asociadas.
El patrón de difracción de rayos X (XRD) incluye información sobre las posiciones e intensidad del pico. Las posiciones pico son indicativas de la estructura cristalina y la simetría de la fase contribuyente, mientras que las intensidades pico, reflejan la dispersión total de cada plano en la estructura cristalina de la fase y dependen directamente de la distribución de átomos particulares en la estructura. El análisis cuantitativo de Rietveld es un método poderoso para determinar las cantidades de componentes cristalinos y amorfos en mezclas multifase.
Application notes
The following application notes are relevant to this applicationXRD
WDXRF
EDXRF
Rigaku recommends the following systems:
Thermal Analysis
TG-DTA is a hyphenated technology generally referred to as simultaneous thermal analysis (STA).
XRD
Sistema avanzado de rayos XRD de alta resolución y tecnología de punta, impulsado por el software del sistema experto Guidance
Difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada
Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase
Sistema XRD multipropósito de alto rendimiento para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad.
WDXRF
El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.
High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software
Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento, multicanal, simultaneo, de tubo superior, analiza de Be a U
EDXRF
El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
El analizador elemental EDXRF de bajo costo mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
